在濾筒除塵器技術中如何測定塵粒的粒徑分布？以下蘇州袋式除塵器廠家介紹幾種常用的粒徑分布測定方法。

(1)顯微鏡法常在放大率450〜600倍的顯微鏡下對塵粒 譏行逐個(ge) 測量，從(cong) 而取得定向徑、定向等麵積徑、投影麵積徑

等（見圖2)。在測量時整個(ge) 視野範圍內(nei) 的塵粒數不得超過50〜 70個(ge) ，避免粒子間的重疊，每次至少測量200個(ge) 以上。光學顯 微鏡可以測定微米級的粒徑，電子顯微鏡可以測定納米級的 粒徑。

(2)    篩分法取25〜200g塵樣（一般取100g作為(wei) 標準）， 通過一套篩子進行篩分，按不同篩孔上的殘留量計算出不同粒徑 範圍的顆粒質量占總質量的百分數。我國采用泰勒標準篩，孔目40fxm。篩分法可用手工和振篩機篩分，任一種篩分都要求 每分鍾通過每隻篩子的塵量不超過0. 05g或篩上塵量（未通過篩 孔，留在篩上的粉塵量）的0.1%。

(3)    細孔通過法常用庫爾特（Coulter)計數器測量，它 使塵粒在電解介質中通過孔口，由於(yu) 電阻的變化而引起電壓的波 動，電壓波動值越大，則塵粒的體(ti) 積越大。此法測得的是等體(ti) 積 徑，測得的範圍為(wei) 0. 6〜50(Vm。此法需要的試樣少（2mg)，分 析快，隻需幾十秒鍾。

(4)    沉降法製訂此法的依據是不同大小顆粒在液體(ti) 介質中 的沉降速率各不相同這一原理，它是氣體(ti) 除塵試驗研究中應用廣泛的方法。

粉塵的粒徑分布又稱為(wei) 粉塵的分散度，和粒度分布這一概念 堪本相同，是指粉塵中各種不同粒徑的顆粒組成比。可以以粉塵 的顆粒數或麵積計，也可以以粉塵的質量計，通常使用的是粉塵 的質量累計分布。

當樣品中所有顆粒的真密度相同時，顆粒的質量分布和體(ti) 積 分布一致。在沒有特別說明時，儀(yi) 器給出的粒徑分布一般指質量 或體(ti) 積分布。

粉塵粒徑的表示方法主要有分布函數法和圖表法兩(liang) 種。

分布函數法是運用數學模型和定律，用概率統計方法來表示 粉塵粒徑的分布規律。

濕式除塵器廠家告訴您圖表法是用表格的方法表示粉塵粒徑分布，此表格稱為(wei) 粒徑 分布表。它通常包含以下項目：粒徑範圍(fxm)、間隔寬度 Adp (pm)、粉塵質量(g)、頻率分布(%)、頻度分布 / (%/f.m),篩上累計頻率分布i? (%)、篩下累計頻率分布D (%)。表3為(wei) 某測定粉塵的粒徑分布。